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原位沉積/剝離/產(chǎn)氣監(jiān)測
三維形貌圖
表界面均勻性
晶體取向分布
二維XRD衍射
離子濃度動態(tài)分布圖
表面離子流/電流分布
二維/三維化學(xué)組成分布
電池穩(wěn)定性與產(chǎn)氣分析
原位氣壓監(jiān)測
原位電極質(zhì)量監(jiān)測
原位XRD(水系電池)
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原位紅外(水系電池)
原位電化學(xué)阻抗譜(原位EIS)
電解液穩(wěn)定性與SEI
陰離子極性
分子極性指數(shù)與配位結(jié)構(gòu)
金屬離子溶劑化結(jié)構(gòu)
氫鍵數(shù)量與分布
離子擴(kuò)散能壘
雙電層結(jié)構(gòu)模擬
相場模擬
物質(zhì)遷移與擴(kuò)散
場發(fā)射掃描電鏡（SEM）
TEM云現(xiàn)場/現(xiàn)場
SEM云現(xiàn)場/現(xiàn)場
場發(fā)射透射電鏡（TEM）
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X射線衍射儀（XRD）
傅里葉紅外光譜儀（FTIR）
電子自旋共振波譜儀（ESR/EPR）
液體核磁共振（NMR）-500M/600M
X射線光電子能譜（XPS）
等離子體光譜儀（ICP-OES）
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元素分析儀（EA）
FIB云現(xiàn)場/現(xiàn)場
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Zeta電位及納米粒度分析儀（DLS）
常溫/高溫凝膠色譜（GPC）
化學(xué)吸附儀（TPD/TPR/TPO）
熱重分析（TG-DTG）
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差示掃描量熱儀（DSC）
Hot Disk熱常數(shù)分析儀
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同步輻射GIWAXS/GISAXS測試
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